ПРЕДИСЛОВИЕ

С момента появления в 1971 г. первой книги серии «Полупроводниковая электроника» полупроводниковые приборы получили дальнейшее развитие. В этом развитии особая роль принадлежит контрольно-измерительной технике и многочисленным методам контроля. Если на ранней стадии развития полупроводниковых приборов имело смысл посвящать методам измерений и контроля несколько глав в соответствующих книгах, то сегодня представляется целесообразным изложить эти методы в отдельной книге.

Темой предлагаемой книги является рассмотрение многих аспектов экспериментального определения параметров полупроводниковых приборов — контрольно-измерительной техники, надежности аналоговых и интегральных схем, полупроводниковых элементов большой мощности и оптоэлектронных приборов, специальных измерений с помощью электронного луча. Все перечисленные аспекты трудно осветить одному автору. Поэтому отдельные главы этой книги написаны различными авторами: гл. 1 — М. Цербстом, гл. 2 — Ц. де Ройси, гл. 3 — С. Кёппе и П. Ридвалом, гл. 4 — В. Герлингом, гл. 5 и 6 — X. Реме, гл. 7 — М. Стойснеком, гл. 8 — X. X. Куно. Всех их мы благодарим за создание этой книги, особенно Ейнча за постоянную заботу и внимание.

Нашу благодарность выражаем также издательству Springer-Verlag за проявленное терпение и помощь в издании книги.

Мюнхен, ноябрь 1985 г.

М. Цербст

Назад на страницу описания